製品概要
西安交通大学の深い研究開発の蓄積を活かした導波管プローブは、高周波差動測定向けに設計され、精密加工によりプローブと導波管インターフェースの完全なマッチングを実現します。ウェーハレベルRF/マイクロ波差動テスト、光電子デバイスの特性評価、高速相互接続の信号整合性検証などに適しています。厳格な校正により優れた再現性と耐久性を備え、さまざまな仕様とカスタマイズサービスを提供しています。
本シリーズは低損失の誘電体材料を使用し、挿入損失を効果的に低減して測定精度を向上させます。差動構造は優れたクロストーク抑圧を実現し、独自のコプレーナ導波管設計により広帯域にわたって安定した電気特性を維持し、研究機関や生産ラインに最適です。
主な特長
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広帯域
75 GHz～500 GHzをカバーし、多様な高周波差動テストニーズに対応します。
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差動測定
差動信号テストに対応し、クロストーク抑圧は30 dB以上です。
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低挿入損失
高品質の誘電体材料により、挿入損失は5 dB未満です。
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高再現性
接触式設計により測定結果が安定し、再現性は0.05 dB以上です。
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耐久性に優れた設計
ステンレス製ハウジングと交換可能なプローブチップで長寿命です。
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カスタマイズ
顧客のニーズに応じて周波数範囲とインターフェースをカスタマイズできます。
詳細情報
| 型番 | 周波数 | ピッチ | 標準挿入損失 | 標準反射損失 | クロストーク |
|---|---|---|---|---|---|
| 110-170-GSGSG-125 | 110-170 GHz | 125 µm | > -3.3 dB | < -10 dB | < -30 dB |
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