ラボから量産テスト現場まで、当社のプローブはRF、高速デジタル、フォトニクスなど幅広いテストアプリケーションを支えます。
RFからテラヘルツまでのフルバンドテストソリューションで、5Gおよび将来の通信研究開発を支援します。
PCIe 6.0や224G SerDesなどの高速相互接続向け差動信号テストソリューションを提供し、信号の正確性を確保します。
電気学とフォトニクスを効率的に統合し、ウェハ段階でシリコンフォトニクスチップの性能を高精度に選別します。
