プローブ(Probes)

  • シングル導波管プローブ

    シングル導波管プローブ

    70 GHz ~ 500 GHz に対応、低挿入損失でミリ波テストに最適です。

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  • 差動導波管プローブ

    差動導波管プローブ

    70 GHz ~ 500 GHz に対応、低挿入損失でミリ波差動テストに最適です。

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  • シングル同軸プローブ

    シングル同軸プローブ

    超広帯域同軸プローブ、高い再現性でチップレベルテストに最適です。

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  • 差動同軸プローブ

    差動同軸プローブ

    超広帯域差動同軸プローブ、高い再現性でチップレベル差動テストに最適です。

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  • デュアルバンドプローブ

    デュアルバンドプローブ

    デュアルバンド一体型設計で複数周波数帯の測定に対応し、プローブ交換を減らしテスト効率を向上します。

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プローブステーション(Probe System)

  • 手動プローブステーション

    手動プローブステーション

    8インチ・12インチウェハなど様々なサイズのサンプルに対応し、DCからRFまで幅広いアプリケーションに利用できます。

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  • 半自動プローブステーション

    半自動プローブステーション

    8インチ・12インチウェハの自動搬送と高精度アライメントに対応し、量産向けウェハDC/RFテストに最適です。

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校正基板(Impedance Standard Substrates)

  • 校正基板

    校正基板

    プローブとテストシステムの校正に使用する高精度インピーダンス標準基板です。

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