製品センター

導波管プローブ

70 GHz ～ 500 GHz に対応、低挿入損失でミリ波テストに適用します。

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導波管差動プローブ

110 GHz ～ 260 GHz に対応、低挿入損失でミリ波テストに適用します。

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同軸プローブ

超広帯域同軸プローブ、高い再現性でチップレベルテストに適用します。

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同軸差動プローブ

超広帯域同軸プローブ、高い再現性でチップレベル差動テストに適用します。

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デュアルバンドプローブ

デュアルバンド一体型設計で複数周波数帯の測定に対応し、プローブ交換を減らしテスト効率を向上します。

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手動プローブステーション

8インチ・12インチウェハなど様々なサイズのサンプルに対応し、DCからRFまで幅広いアプリケーションに利用できます。

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半自動プローブステーション

多サイズウェハの自動XYZ軸移動に対応し、高精度アライメントを実現。量産向けウェハDC/RFテストに最適で、テスト効率と一致性を向上します。

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校正基板

プローブとテストシステムの校正に使用する高精度インピーダンス標準基板です。

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方向性結合器

単方向・双方向サンプリングの 2 種類があり、主路の下限は 10 MHz、145 GHz まで対応。標準結合度 12 dB、標準方向性 15 dB です。

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ダイプレクサ

同軸主路とミリ波拡張経路を 1 つのテストポートに合成します。現行製品は 10 MHz–170 GHz をカバーします。

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