シリコンフォトニクスのウェハレベルテスト — チップ性能を高精度に評価

AIの急速な発展に伴い、データ計算センターの伝送速度は絶えず向上しており、従来の銅相互接続はもはや産業製品のニーズを満たすことができません。光電通信は伝送速度が高く、損失が低いという優位性を持ち、現在の業界発展における主流の選択となっています。

シリコンフォトニクスは、成熟したCMOSプロセスプラットフォームを活用し、シリコン基板上で光信号の生成・変調・伝送・検出を実現します。広帯域・低消費電力・高集積という本質的な優位性を備えています。400G、800G、さらには1.6T光モジュールの商用化が進むにつれ、シリコンフォトニクスチップはラボから量産へと移行しつつあり、ウェハレベルテストへの要求はかつてないほど高まっています。