70 GHz ～ 500 GHz に対応、低挿入損失でミリ波テストに適用します。
110 GHz ～ 260 GHz に対応、低挿入損失でミリ波テストに適用します。
超広帯域同軸プローブ、高い再現性でチップレベルテストに適用します。
超広帯域同軸プローブ、高い再現性でチップレベル差動テストに適用します。
デュアルバンド一体型設計で複数周波数帯の測定に対応し、プローブ交換を減らしテスト効率を向上します。
