70 GHz ～ 500 GHz に対応、低挿入損失でミリ波テストに最適です。
70 GHz ～ 500 GHz に対応、低挿入損失でミリ波差動テストに最適です。
超広帯域同軸プローブ、高い再現性でチップレベルテストに最適です。
超広帯域差動同軸プローブ、高い再現性でチップレベル差動テストに最適です。
デュアルバンド一体型設計で複数周波数帯の測定に対応し、プローブ交換を減らしテスト効率を向上します。
