产品概述
我们的波导探针凭借国内高校团队深厚的科研积淀，专为高频差分测量设计，采用精密加工工艺，确保探针与波导接口的完美匹配。适用于晶圆级射频微波差分测试、光电器件特性表征、高速互连信号完整性验证等领域。探针经过严格校准，具有出色的重复性和耐用性。同时提供多种规格和定制服务，满足不同客户的需求。
该系列探针采用低损耗介质材料，有效降低插入损耗，提高测量精度。差分结构具备优异的串扰抑制能力，独特的共面波导设计使其在宽频带内保持稳定的电气性能，是科研和工业领域的理想选择。
主要特征
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宽频带
覆盖 110 GHz 至 260 GHz，满足多种高频差分测试需求。
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差分测量
支持差分信号测试，典型值实现-30dB串扰。
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低插入损耗
采用优质介质材料，插入损耗小于 5 dB。
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高重复性
接触式设计保证多次测量结果一致，重复性优于 0.05 dB。
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耐用设计
使用寿命超过十万次循环，可更换探针头，使用寿命长。
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定制服务
可根据客户需求定制频率范围和接口规格。
更多信息
| 型号 | 适用频率 | 针间距 | 典型插损 | 典型回损 | 串扰 |
|---|---|---|---|---|---|
| 110-170-GSGSG-125 | 110-170 GHz | 125 µm | > -3.3 dB | < -10 dB | < -30 dB |
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规格书
包含详细的电气参数、机械尺寸和接口定义。