我们提供高性能的射频与微波测试解决方案，包括探针、探针台、校准件及耦合器与双工器。
覆盖 70 GHz 至 500 GHz，低插入损耗，适用于毫米波测试。
覆盖 110 GHz 至 260 GHz，低插入损耗，适用于毫米波差分测试。
超宽带同轴探针，高重复性，适用于芯片级测试。
超宽带同轴差分探针，高重复性，适用于芯片级差分测试。
双频段一体化设计，支持多频段组合测量，减少探针更换频率，提高测试效率。
可满足不同规格样品测试，如 8 英寸、12 英寸晶圆等；也可满足不同应用场景，如直流、射频等。
支持多尺寸晶圆自动XYZ轴位移，实现高精度对准，适合批量晶圆级直流与射频测试，提升测试效率与一致性。
高精度阻抗标准基片，用于校准探针和测试系统。
单定向与双定向取样两类结构，主路下限 10 MHz、覆盖至 145 GHz，典型耦合 12 dB、典型方向性 15 dB。
把同轴主路与毫米波扩频通路合路至单一测试端口，现有产品覆盖 10 MHz–170 GHz。
