我们提供高性能的射频与微波测试解决方案，包括探针、探针台及校准件。
覆盖 70 GHz 至 500 GHz，低插入损耗，适用于毫米波测试。
覆盖 70 GHz 至 500 GHz，低插入损耗，适用于毫米波差分测试。
超宽带同轴探针，高重复性，适用于芯片级测试。
超宽带差分同轴探针，高重复性，适用于芯片级差分测试。
双频段一体化设计，支持多频段组合测量，减少探针更换频率，提高测试效率。
可满足不同规格样品测试，如 8 英寸、12 英寸晶圆等；也可满足不同应用场景，如直流、射频等。
支持 8 英寸、12 英寸晶圆自动上下片与高精度对准，适合批量晶圆级直流与射频测试，提升测试效率与一致性。
高精度阻抗标准基片，用于校准探针和测试系统。
