产品概述
我们的同轴探针凭借国内高校团队深厚的科研积淀，专为高频测量设计，采用精密加工工艺，确保探针与同轴接口的完美匹配。适用于晶圆级射频微波测试、光电器件特性表征、高速互连信号完整性验证等领域。探针经过严格校准，具有出色的重复性和耐用性。同时提供多种规格和定制服务，满足不同客户的需求。
该系列探针采用优质介质材料与精密结构设计，在超宽频带内保持稳定的电气性能，是科研和工业领域的理想选择。
主要特征
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超宽带
覆盖 DC 至 220 GHz，满足超宽带测试需求。
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低插入损耗
采用优质介质材料，插入损耗小于 5 dB。
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高重复性
接触式设计保证多次测量结果一致，重复性优于 0.05 dB。
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耐用设计
使用寿命超过十万次循环，可更换探针头，使用寿命长。
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维修周期短
快速响应维修需求，国内维护仅需一周。
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定制服务
可根据客户需求定制频率范围和接口规格。
更多信息
| 型号 | 适用频率 | 针间距 | 典型插损 | 典型回损 |
|---|---|---|---|---|
| DC-67-GSG-150 | DC-67 GHz | 150 µm | < 1.5 dB | < -20 dB |
| DC-110-GSG-150 | DC-110 GHz | 150 µm | < 2.5 dB | < -18 dB |
| DC-145-GSG-100 | DC-145 GHz | 100 µm | < 3.5 dB | < -10 dB |
| DC-170-GSG-150 | DC-170 GHz | 150 µm | < 4.5 dB | < -10 dB |
点击表格中的型号查看对应 S 参数
更多信息请点击下载：
规格书
包含详细的电气参数、机械尺寸和接口定义。