产品概述
本公司的波导探针凭借西安交通大学深厚的科研积淀，专为高频测量设计，采用精密加工工艺，确保探针与波导接口的完美匹配。适用于晶圆级射频微波测试、光电器件特性表征、高速互连信号完整性验证等领域。探针经过严格校准，具有出色的重复性和耐用性。同时提供多种规格和定制服务，满足不同客户的需求。
该系列探针采用低损耗介质材料，有效降低插入损耗，提高测量精度。独特的共面波导结构设计，使其在宽频带内保持稳定的电气性能，是科研机构和生产线的理想选择。
主要特征
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宽频带
覆盖 75 GHz 至 500 GHz，满足多种高频测试需求。
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低插入损耗
采用优质介质材料，插入损耗小于 5 dB。
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高重复性
接触式设计保证多次测量结果一致，重复性优于 0.05 dB。
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耐用设计
使用寿命超过10万次循环。
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坚固结构
允许较大过行程，更大容错性。
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定制服务
可根据客户需求定制频率范围和接口规格。
更多信息
| 型号 | 适用频率 | 针间距 | 典型插损 | 典型回损 |
|---|---|---|---|---|
| 75-110-GSG-150 | 75-110 GHz | 150 µm | < 1.5 dB | < -15 dB |
| 110-170-GSG-100 | 110-170 GHz | 100 µm | < 2.0 dB | < -14 dB |
| 140-220-GSG-100 | 140-220 GHz | 100 µm | < 2.5 dB | < -14 dB |
| 170-260-GSG-50-T | 170-260 GHz | 50 µm | < 5 dB | < -15 dB |
| 220-330-GSG-50-T | 220-330 GHz | 50 µm | < 4.5 dB | < -13 dB |
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