硅光子芯片晶圆级测试——精准反馈硅光芯片性能
随着AI的快速发展,数据计算中心的传输速率不断提高,传统的铜互连模式已经不能满足工业产品的需求。光电通信具有传输速率高、损耗低等优势,已经成为现今行业发展的主流选择。
硅光子技术利用成熟的 CMOS 工艺平台,在硅基衬底上实现光信号的产生、调制、传输与探测,具有带宽大、功耗低、集成度高等天然优势。随着 400G、800G 乃至 1.6T 光模块逐步商用,硅光芯片正在从实验室走向大规模量产,对晶圆级测试提出了前所未有的要求。
挑战与解决方案
行业痛点
- 晶圆级测试中,探针性能差及测试系统校准误差较大,对产品性能及良率评估产生决定性影响。
- 高频信号下插入损耗大。
我们的优势
- 专为硅光芯片设计的探针,支持DC至220GHz信号测试。
- 高精度 MEMS工艺设计,优异的射频性能,保证晶圆级测试一致性。
- 低插损设计。
我们的硅光子测试解决方案,帮助客户在晶圆阶段精准筛选性能,加速产品迭代。