产品概述
本公司的同轴探针凭借西安交通大学深厚的科研积淀，专为高频测量设计，采用精密加工工艺，确保探针与同轴接口的完美匹配。适用于晶圆级射频微波测试、光电器件特性表征、高速互连信号完整性验证等领域。探针经过严格校准，具有出色的重复性和耐用性。同时提供多种规格和定制服务，满足不同客户的需求。
GSSG 探针采用 MEMS 半导体芯片特殊工艺设计，对差分信号串扰抑制度能达到 30dB 以上，达到国际领先水平。
主要特征
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超宽带
覆盖 DC 至 220 GHz，满足超宽带测试需求。
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低插入损耗
采用优质介质材料，插入损耗小于 5 dB。
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高重复性
接触式设计保证多次测量结果一致，重复性优于 0.05 dB。
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耐用设计
不锈钢外壳，可更换探针头，使用寿命长。
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独特针尖结构
基于3D MEMS设计，实现-35 dB串扰。
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定制服务
可根据客户需求定制频率范围和接口规格。
更多信息
| 型号 | 适用频率 | 针间距 | 典型插损 | 典型回损 | 串扰 |
|---|---|---|---|---|---|
| DC-145-GSSG | DC-145 GHz | 100\125 µm | < 2.5 dB | < -15 dB | < -25 dB |
| DC-67-GSGSG-100 | DC-67 GHz | 100 µm | < 2.0 dB | < -15 dB | < -40 dB |
| DC-110-GSGSG-125 | DC-110 GHz | 125 µm | < 2.2 dB | < -15 dB | < -25 dB |
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